میکروسکوپ نیروی اتمی Multimode AFM


  • عنوان محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی Multimode AFM
  • کد محصول:
  • صنایع مورد کاربرد: دانشگاه ها و مراکز آموزشی تحقیقاتی
  • راهکارها:

دانشنامه محصول دریافت کاتالوگ


  • معرفی محصول
     دانشنامه محصول
    میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یکی از انواع میکروسکوپ پروبی روبشی (SPM) می‌باشد. SPM ها برای اندازه‌گیری مشخصاتی مانند ارتفاع، اصطکاک، مغناطیس با استفاده از یک پروب طراحی شده‌اند. برای دستیابی به یک تصویر، پروب دستگاه یک ناحیه کوچکی از نمونه را می‌روبد و همزمان مشخصات موضعی را اندازه‌گیری می‌کند. میکروسکوپ نیروی اتمی بدون شک متنوع ترین و قدرتمندترین تکنولوژی میکروسکوپی برای مطالعه نمونه‌ها در مقیاس نانو می‌باشد. یک میکروسکوپ نیروی اتمی نه تنها تصویر توپوگرافی سه بعدی به دست می‌دهد بلکه انواع مختلف اندازه‌گیری‌های سطحی مورد نیاز محققین و مهندسین را فراهم کرده و هم چنین می‌تواند تصاویری با وضوح اتمی در مقیاس آنگستروم با کمترین آماده‌سازی سطح تولید کند.
    AFM دارای یک کانتی‌لیور با یک نوک بسیار تیز می‌باشد که روی سطح نمونه حرکت می‌کند. همان طور که نوک به سطح نمونه نزدیک می‌شود، نیروی جاذبه بین سطح نمونه و نوک کانتی‌لیور باعث منحرف شدن کانتی‌لیور به سمت سطح می‌شود. اگر کانتی‌لیور به سطح نزدیکتر شود به طوری که نوک با سطح در تماس باشد، نیروی دافعه غلبه کرده و باعث می‌شود کانتی‌لیور از سطح دور شود. از یک پرتو لیزری برای شناسایی انحرافات کانتی‌لیور از سطح (دور یا نزدیک شدن) استفاده شده است. توسط بازتاب پرتو از سطح بالای کانتی‌لیور، هر انحرافی باعث تغییر جزئی در جهت پرتو بازتابی خواهد شد. با ثبت این تغییرها می‌توان توپوگرافی سطح نمونه را بدست آورد. حساسیت این تکنیک در حدی است که انحرافات عمودی بسیار کمتر از nm 1/0 را هم می‌تواند آشکار کند؛ بنابراین پله‌هایی با ارتفاع فقط یک اتم هم به آسانی تشخیص داده می‌شوند. قدرت تفکیک جانبی نیز در این مقیاس امکان‌پذیر است بنابراین AFM واقعا در سه بعد قدرت تفکیکی اتمی دارد.
  • کاربردها
    این دستگاه به دلیل قابلیت های بالایی که دارد در علوم مختلف مورد استفاده قرار می گیرد. برخی از کاربردها در علوم مختلف در زیر آمده است:
    محیط زیست و علوم غذایی:
    • بررسی مشخصات نانو فیلترها
    • بررسی خواص نانو ساختاری ژلاتین
    • بررسی ساختار مایسل های کازئین و رئولوژی آن ها
    • بررسی نانوساختار نشاسته و مکانیزم تجزیه آن
    • و ...
    • مهندسی پلیمر و پوشش ها:
    • مورفولوژی سطحی فیلم های پلیمری
    • اندازه گیری های نانو مکانیکی
    • بررسی فرآیند پلیمریزاسیون
    • و ...
    • فیزیک:
    • بررسی صافی سطوح اپتیکی در صنایع نوری
    • بررسی خواص مغناطیسی و الکتریکی مواد
    • و ...
    • مواد و متالورژی:
    • بررسی مورفولوژی نمونه های مختلف
    • محاسبه اندازه ذرات مواد پودری
    • آنالیز ترک ماده تحت بارهای یکنواخت
    • آنالیز ترک خستگی
    • بررسی زبری سطحی
    • مطالعات تریبولوژی سطوح مختلف
    • و ...
    • صنعت:
    • بازرسی محصولات صنایع ذخیره اطلاعات
    • بازرسی محصولات صنایع میکروالکترونیک
    • کنترل کیفی سطوح پوشش داده شده
    • و ...

  • ویژگی های رقابتی
  • مشخصات فنی
    Specification
      µ 50
     Surface scanning range
    1nm
    Lateral resolution
    0.1nm
    Vertical resolution
    7mm
    Large scale sample movement
    0.01W
    Laser power
    18A/W
    photodiode sensitivity
     µ 0.6 Micro actuator resolution

     Working mode
     Full plus
     Full Advanced
     Standard Functional mode
     ●  ●
     ●
    contact (Static, DC)
     ●  ●  ●  ● Non-contact (Dynamic, A)
     ●  ●  ●  ●  Tapping (Semi-contact)
     ●  ●  ●  ●  Lateral force microscopy (LFM)
     ●  ●  ●    Magnetic force microscopy (MFM)
     ●  ●  ●    Electric force microscopy (EFM)
     ●  ●  ●    Force spectroscopy
     ●